產(chǎn)品時(shí)間：2025-08-20
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | 其他品牌 |
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涂層測(cè)厚儀 型號(hào):KM1-LS225
LS225涂鍍層測(cè)厚儀由LS225主機(jī)和探頭組成，目前主機(jī)可支持F500鐵基探頭和N1500、N2000非鐵基探頭。F500和N1500采用小探頭設(shè)計(jì)，適合于釘子、螺栓等小工件的薄鍍層或各種鋁材表面、陽極氧化層測(cè)量。N2000采用自重觸發(fā)測(cè)量設(shè)計(jì)，適合測(cè)量平面板材的涂層厚度。
涂層測(cè)厚儀 型號(hào):KM1-LS225
探頭型號(hào)
F500鐵基探頭
測(cè)量原理：磁感應(yīng)
基體材料：鐵磁性金屬
測(cè)量范圍：0.0~500μm
測(cè)量間隔：
1.5s(單次模式)
0.4s(連續(xù)模式)
分辨率：
0.1μm:（0μm ～ 99.9μm）
1μm:（100μm ～500μm）
重復(fù)性：≤±（0.8%H+0.1μm）手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試，H為標(biāo)準(zhǔn)值
誤差：±（2%H+0.3μm）五點(diǎn)校準(zhǔn)，H為標(biāo)準(zhǔn)值
單位：μm / mil
小曲率半徑：凸面1.5mm，凹面10mm
小基體厚度：0.1mm
